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人工智能论坛第9期“电连接可靠性—可靠连接你我他”成功举办

发布者: [发表时间]:2022-05-26 [来源]: [浏览次数]:

为进一步活跃学术氛围,引导广大学生的专业兴趣,5月25日下午16:00,人工智能学院通过线上方式举办人工智能论坛第9期“电连接可靠性—可靠连接你我他”,主讲人为人工智能学院周怡琳教授,报告由人工智能学院杨辉华教授主持。

报告伊始,杨辉华教授介绍了本次报告的主题、周怡琳教授的个人简介和研究领域等。针对电接触科学这样一门重要的交叉学科,周怡琳教授首先进行了详细地介绍。随后,周老师对机电元件、电接触的应用形式、电接触的功能、电接触失效的原因等方面进行阐述,从而引导与会师生对电接触可靠性的重要性进行思考。随着周老师对电接触学科的形成和发展娓娓道来,电接触的发展与应用深深地吸引着与会师生。电接触学科的发展与应用清晰地展现在与会师生面前,电接触失效分析的案例更是令人印象深刻。周老师从实际出发,针对Micro-USB连接器烧蚀失效机理的实际案例进行分析,从发现问题、分析问题、解决问题的思路入手,引人思考该问题应如何进行研究。在周老师的严密推断下,由5个可能造成发热的顶事件到16个不能分解的底事件,结合形成机理来推断影响因素,推断影响USB烧蚀失效的因素排序依次是:温湿度、污染、电压、插拔次数。最终得到USB烧蚀失效的可能性分区。随后,周老师对连接器产业发展的前景进行分析,判断连接器作为信息传输必备元件,产业将迎接发展良机。同时因应用广泛,通信及新能源汽车将是活力充沛的下游市场,并指出该产业发展有大市场、大产业、大技术等特点。最后,周老师对人工智能学院智能检测与系统安全中心的成员情况及研究方向进行了简要概括,并热心回答了相关技术领域的问题。

本次报告内容丰富,通过周怡琳教授的形象讲解,与会师生深入了解了电接触科学的相关研究及应用。后续,人工智能学院将持续开展人工智能论坛活动,为丰富学院学术氛围,促进学术交流提供平台。

人工智能学院

2022年5月26日